电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
标准状态
发布于：2015-05-15
实施于：2016-01-01
废止
基本信息
GB/T 5594.4-2015
现行
2015-05-15
2016-01-01
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
GB/T 5594.4-1985
中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司、中国电子技术标准化研究院
曾桂生、李晓英、薛晓梅
标准简介
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。 本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH，温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
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