太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
标准状态
发布于：2016-04-05
实施于：2016-09-01
废止
基本信息
SJ/T 11631-2016
现行
2016-04-05
2016-09-01
工业和信息化部
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司
陈佳洵、贺东江、黄黎 等
标准简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。 本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有各方协商。
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