半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
标准状态
发布于：2023-09-07
实施于：2023-09-07
废止
基本信息
GB/T 43035-2023
现行
2023-09-07
2023-09-07
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
工业和信息化部
中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院
王婷婷、呂红杰、李林森、雷剑、冯玲玲、王琪、张亚娟
标准简介
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。 通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
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