宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire
标准状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
废止
基本信息
GB/T 43227-2023
现行
2023-09-07
2024-01-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
国家标准委
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
赵元富、姚全斌、荆林晓、李洪剑、曹燕红、刘思嘉、林鹏荣、冯小成、付明洋、林建京、刘征宇
标准简介
本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。 本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。
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