电信设备内部电磁发射诊断技术要求和测量方法(150kHz~1GHz) 第2部分:辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室方法
标准状态
发布于:2007-09-29
实施于:2008-01-01
废止
基本信息
标准简介
本部分规定了在电信设备内部通过TEM小室和宽带TEM小室方法进行辐射发射测量的方法。本部分适用于工作频率范围为150kHz~1GHz的电信设备内部的集成电路。
本部分规定了在电信设备内部通过TEM小室和宽带TEM小室方法进行辐射发射测量的方法。本部分适用于工作频率范围为150kHz~1GHz的电信设备内部的集成电路。