基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
标准状态
发布于：2023-05-06
实施于：2023-06-06
已废止
基本信息
DB13/T 5696-2023
已废止
2023-05-06
2023-06-06
河北省市场监督管理局
石家庄市市场监督管理局
石家庄市市场监督管理局
河北博威集成电路有限公司
郭跃伟、王鹏、张博、王静辉、闫志峰、郝永利、王景亮、刘子浩
标准简介
本文件规定了基于高温反偏试验的GaN HEMT射频功率器件缺陷快速筛选的筛选原理、筛选条件、筛选系统构成和要求、筛选方法和判据。 本文件适用于工业级GaN HEMT射频功率器件的快速筛选，GaN HEMT射频功率模块可参照使用。
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