工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 10：Determination of mercury content—Atomic fluorescence spectrometry method
标准状态
发布于：2016-08-29
实施于：2017-07-01
废止
基本信息
GB/T 14849.10-2016
现行
2016-08-29
2017-07-01
中国有色金属工业协会
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国有色金属工业协会
昆明冶金研究院、北京矿冶研究总院、通标标准技术服务（天津）有限公司、云南出入境检验检疫局、北京有色金属研究总院、云南永昌硅业股份有限公司、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司、广州有色金属研究院
刘英波、罗舜、王立、唐飞、滕亚君、周杰、刘维理、陈映纯、麦丽碧、杨毅、陈殿耿、杨琛、段坤艳、杨海岸、赵德平、蒯丽君、程堆强
标准简介
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010 %-0.001 0 %。 u3000u3000
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