电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
标准状态
发布于：2015-05-15
实施于：2016-01-01
废止
基本信息
GB/T 5594.8-2015
现行
2015-05-15
2016-01-01
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
GB/T 5594.8-1985
中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院
江树儒、曹易、高永泉、翟文斌
标准简介
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
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