电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio

GB/T 5594.2-1985现行国家标准

标准状态

发布于：1985-11-27

实施于：1986-12-01

废止

标准号GB/T 5594.2-1985

标准状态现行

发布日期1985-11-27

实施日期1986-12-01

中国标准分类号L32

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家标准局

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位天津大学

本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。