波长色散X射线荧光光谱仪

Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

JJG 810-1993现行计量规范

标准状态

发布于：1993-02-13

实施于：1993-06-01

废止

标准号JJG 810-1993

标准状态现行

发布日期1993-02-13

实施日期1993-06-01

发布部门国家技术监督局

技术归口国家标准物质研究中心

起草单位国家标准物质研究中心

起草人茅祖兴

本规程适用于新生产、使用中和修理后的各种类型波长色散X射线荧光光谱仪的检定。 X射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。工作的基本原理是X射线管发出的初级X射线激发试样中的原子，产生的荧光X射线通过晶体分光并用探测器测量，根据各种元素特征X荧光谱线的波长和强度进行元素的定性和定量分析。