石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
标准状态
发布于：2008-08-06
实施于：2009-01-01
已废止
基本信息
GB/T 22319.8-2008
已废止
2008-08-06
2009-01-01
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
中国电子元件行业协会压电晶体分会
章怡、姜连生
标准简介
GB/T 22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外，本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。本部分
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