半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分：柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法
Semiconductor devices—Flexible and stretchable semiconductor devices—Part 8: Test method for stretchability, flexibility and stability of flexible resistive memory
标准状态
发布于：2026-02-27
实施于：2026-09-01
废止
基本信息
GB/T 47239.8-2026
现行
2026-02-27
2026-09-01
工业和信息化部（电子）
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）