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半导体芯片测试用探针头

Semiconductor chip test probe plungers

T/ZZB 3888-2024现行团体标准

标准状态

发布于：2024-12-06

实施于：2024-12-06

废止

基本信息

标准号T/ZZB 3888-2024

标准状态现行

发布日期2024-12-06

实施日期2024-12-06

国际标准分类号31.240 电子设备用机械构件

发布部门浙江省质量协会

团体名称浙江省质量协会

起草单位浙江金连接科技股份有限公司、北京金连接科技有限公司、成都麦克凯利科技有限公司。

起草人曹镭、李云峰、王京松、李婧。

内容预览

T/ZZB 3888-2024 标准预览

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