带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
标准状态
发布于:2012-06-29
实施于:2012-11-01
废止
基本信息
GB/T 5201-2012
现行
2012-06-29
2012-11-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 5201-1994
中核(北京)核仪器厂
李志勇、王军
标准简介
本标准规定了带电粒子半导体操测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体操测器。 全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。