X射张光电子能谱仪检定方法
Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
标准状态
发布于:2010-09-26
实施于:2011-08-01
废止
基本信息
GB/T 25184-2010
现行
2010-09-26
2011-08-01
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
王水菊、时海燕、丁训民
标准简介
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。