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砷化镓单晶AB微缺陷检验方法

The inspecting method of AB microscopic defect in gallium arsenide single crystal

GB/T 18032-2000现行国家标准

标准状态

发布于:2000-04-03
实施于:2000-09-01
废止

基本信息

GB/T 18032-2000
现行
2000-04-03
2000-09-01
H24 金相检验方法
国家标准委
国家质量技术监督局
国家标准委
北京有色金属研究总院

标准简介

本标准规定了砷化镓单晶AB微缺陷的检验方法。 本标准适用于砷化镓单晶AB微缺陷密度(AB-EPD)的检验。检验面为(100)面。测量范围小于 5 X10 cm

内容预览

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