半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

GB/T 11685-2003现行国家标准

标准状态

发布于：2003-07-07

实施于：2004-01-01

废止

标准号GB/T 11685-2003

标准状态现行

发布日期2003-07-07

实施日期2004-01-01

中国标准分类号F80 核仪器与核探测器综合

国际标准分类号27.120.01 核能综合

主管部门国家标准委

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

技术归口国家标准委

代替标准GB/T 11685-1989、GB/T 8992-1988

起草单位核工业标准化研究所

本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。