半导体材料牌号表示方法
Designations of semiconductor materials
标准状态
发布于：2018-12-28
实施于：2019-11-01
废止
基本信息
GB/T 14844-2018
现行
2018-12-28
2019-11-01
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
GB/T 14844-1993
浙江省硅材料质量检验中心、有研半导体材料有限公司、东莞市中镓半导体科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、天津市环欧半导体材料技术有限公司、有色金属技术经济研究院、浙江海纳半导体有限公司、南京国盛电子有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司
楼春兰、毛卫中、邹剑秋、孙燕、马林宝、宫龙飞、贺东江、杨素心、汪新华、潘金平、刘晓霞、张雪囡、丁晓民
标准简介
本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示方法。 本标准适用于半导体多晶、单晶、晶片、外延片等产品的牌号表示，其他半导体材料牌号表示可参照执行。
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