锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
Standard method for showing andmeasuring dislocation etch pits in indium antimonide single crystal
标准状态
发布于：1989-03-31
实施于：1990-01-01
废止
基本信息
GB/T 11297.6-1989
现行
1989-03-31
1990-01-01
L32
国家标准委
国家标准委
电子十一所
标准简介
本方法采用硝酸-氢氟酸腐蚀剂腐蚀，适用于锑化铟原始晶片（111）铟面a位错的显示和测定。测量面偏离（111）面应不大于3°。
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