半导体器件机械和气候试验方法

Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

GB/T 4937-1995已废止国家标准

标准状态

发布于：1995-12-22

实施于：1996-08-01

已废止

标准号GB/T 4937-1995

标准状态已废止

发布日期1995-12-22

实施日期1996-08-01

中国标准分类号L40 半导体分立器件综合

国际标准分类号31.080 半导体分立器件

主管部门工业和信息化部（电子）

技术归口全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位上海市电子仪表计量测试所

本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。注:非空腔器件是指器件结构中封装材料与管芯的所有暴睬表面紧密接触且没有任何空间的器件。本标准已尽可能考虑了IEC 68《基本环境试验规程》。