半导体集成电路 PWM控制器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller

GB/T 43061-2023现行国家标准

标准状态

发布于：2023-09-07

实施于：2024-04-01

废止

标准号GB/T 43061-2023

标准状态现行

发布日期2023-09-07

实施日期2024-04-01

中国标准分类号L55 微电路综合

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

提出单位工业和信息化部

起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、西安电子科技大学、成都华微电子科技有限公司

起草人穆永杰、邓些鹏、杨晓萍、王策、胡巧玉、贾宁刚、闫永超、包军林、杨博

本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制（PWM）控制器（以下简称器件）参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。