用半导体γ谱仪分析低比活度 γ放射性样品的标准方法
Standard methods ofanalyzing low specific gamma radioactivity samples by semiconductor gamma spectrometers
标准状态
发布于：1989-09-21
实施于：1990-07-01
已废止
基本信息
标准简介
本标准规定了使用高能量分辨能力的半导体γ射线能谱仪分析低比活度γ放射性核素的固态、液态或可以转化为这两种物态的均匀样品的常规方法。 本标准适用于分析活度大于谱仪的探测限L〔附录A（补充件）〕，并且各核素的Y特征谱线能够分辨开的样品。因此，一般对样品只作诸如烘干、粉碎、搅匀等简单的物理处理，而不作化学分离。当必须对样品作化学分离时，其回收率等参数应按相应规程测定。
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