数字集成电路测试系统（标准样片法）校准规范
Calibration Specification for Digital Integrated CircuitTest System(Reference Chips Method)
标准状态
发布于：2023-07-18
实施于：2023-08-01
废止
基本信息
JJF（鄂）102-2023
现行
2023-07-18
2023-08-01
湖北省市场监督管理局
中国船舶集团有限公司第七〇九研究所
李轩冕(中国船舶集团有限公司第七〇九研究所)、张明虎(中国船舶集团有限公司第七〇九研究所)、胡勇(中国船舶集团有限公司第七〇九研究所)、薄涛(中国船舶集团有限公司第七〇九研究所)
标准简介
数字集成电路测试系统，用于对数字集成电路进行测试。数字集成电路测试系统包含针对数字集成电路功能及参数的各类测试部件，一般包括驱动器、比较器、器件电源、参数测量单元、时序单元等。测试部件与测试头相连，通过测试程序控制测试部件，完成对测试头上集成电路功能及参数的测试。 本规范适用于采用标准样片法实现数字集成电路测试系统(以下简称测试系统)的校准。
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