锗单晶电阻率直流四探针测量方法
Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe
标准状态
发布于：2011-01-10
实施于：2011-10-01
废止
基本信息
GB/T 26074-2010
现行
2011-01-10
2011-10-01
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
南京中锗科技股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司
张莉萍、焦欣文、王学武、普世坤
标准简介
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻串以及测量直径大于探针间距的1O倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·m～l×lO2Ω·cm。
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