高纯碳化硅 微量元素的测定
High purity silicon carbide—Determination of trace elements
标准状态
发布于：2018-12-28
实施于：2019-09-01
废止
基本信息
GB/T 37254-2018
现行
2018-12-28
2019-09-01
中国建筑材料联合会
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
中国建筑材料联合会
中国科学院上海硅酸盐研究所、宁波伏尔肯机械密封件制造有限公司
陈奕睿、邬国平、汪正、邹慧君、朱燕、屈海云、黄伟峰、谢方民
标准简介
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES）法和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。 本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9％的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1（以质量分数计）。
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