电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device
标准状态
发布于：2022-12-16
实施于：2023-04-01
废止
基本信息
T/CNS 81-2022
现行
2022-12-16
2023-04-01
中国核学会
中国核学会
中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟
标准简介
本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。 本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。
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