银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分:苯芴酮分光光度法测定锡量
标准状态
发布于:2008-03-12
实施于:2008-09-01
废止
基本信息
JB/T 7776.4-2008
现行
2008-03-12
2008-09-01
国家发展和改革委员会
全国电工合金标准化技术委员会
JB/T 7776.5-1995
桂林电器科学研究所、上海电科电工材料有限公司等
谢永忠、陆尧 等
标准简介
JB/T 7776的本部分规定了银氧化镉电触头材料中锡量的测定方法。 本部分适用于银氧化镉电触头材料中锡量的测定。测定范围:0.10%~0.50%。