石英晶体元件参数的测量第6部分激励电平相关性(DLD)的测量

SJ/T 11212-1999现行行业标准

标准状态

发布于：1999-08-26

实施于：1999-12-01

废止

标准号SJ/T 11212-1999

标准状态现行

发布日期1999-08-26

实施日期1999-12-01

中国标准分类号L21 石英晶体、压电元件

国际标准分类号31.020 电子元器件综合

发布部门信息产业部

本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z 9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。