石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
标准状态
发布于：2018-03-15
实施于：2018-10-01
废止
基本信息
GB/T 22319.9-2018
现行
2018-03-15
2018-10-01
工业和信息化部（电子）
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
工业和信息化部（电子）
中国电子元件行业协会压电晶体分会、武汉海创电子股份有限公司、成都天奥电子股份有限公司
章怡、黄浩、毛晶
标准简介
GB/T 22319的本部分规定了石英晶体元件寄生(无用)谐振的二种测量方法。 注:与早期的方法相比，本部分改进并提高了测量的重现性和准确度。早期规定的电桥测量方法中，使用了无法满足重现性要求的元件，如可变电阻器和混合变压器。 方法A(全参数测量法) 全参数测量法可以确定寄生谐振的等效电参数，本方法使用与IEC 60444-5同样原理的测量设备。本方法为优先测量方法，可用于测量达几千欧的中低阻抗寄生谐振。 方法B(电阻测量法) 电阻测量法应当在有规定时用于测量高阻抗寄生谐振，如某些滤波晶体。本方法使用与方
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