光栅式测微仪校准规范
Calibration Specification for Grating Micrometers
标准状态
发布于：2017-11-20
实施于：2018-05-20
废止
基本信息
JJF 1682-2017
现行
2017-11-20
2018-05-20
国家质量监督检验检疫总局
全国几何量工程参量计量技术委员会
JJG 989-2004
中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
曹学东、匡龙、冉庆
标准简介
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
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