硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

GB/T 1553-1997已废止国家标准

标准状态

发布于：1997-06-03

实施于：1997-12-01

已废止

标准号GB/T 1553-1997

标准状态已废止

发布日期1997-06-03

实施日期1997-12-01

中国标准分类号H21 金属物理性能试验方法

国际标准分类号77.040.01 金属材料试验综合

主管部门国家标准化管理委员会

技术归口全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位峨嵋半导体材料厂