空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法

Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors

GB/T 30110-2013现行国家标准

标准状态

发布于：2013-12-17

实施于：2014-05-15

废止

标准号GB/T 30110-2013

标准状态现行

发布日期2013-12-17

实施日期2014-05-15

中国标准分类号H80 半金属与半导体材料综合

国际标准分类号49.060 航空航天用电气设备和系统

主管部门中国科学院

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口中国科学院

起草单位中国科学院上海技术物理研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所

起草人杨建荣、周立庆、孙士文、陈路、魏彦锋、折伟林

本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞(HgCdTe)外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试,其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。