半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters

GB/T 43040-2023现行国家标准

标准状态

发布于：2023-09-07

实施于：2024-04-01

废止

标准号GB/T 43040-2023

标准状态现行

发布日期2023-09-07

实施日期2024-04-01

中国标准分类号L55 微电路综合

国际标准分类号31.200 集成电路、微电子学

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口工业和信息化部（电子）

提出单位工业和信息化部

起草单位中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所

起草人王福强、刘玢、马宝锋、陈志培、胡巧玉、李雷、邓些鹏、刘强、韩新峰

本文件描述了半导体集成电路交流到直流（AC/DC）变换器（以下简称器件）参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路AC/DC变换器参数的测试。