高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量

YS/T 37.2-2018现行行业标准

标准状态

发布于：2018-10-22

实施于：2019-04-01

废止

标准号YS/T 37.2-2018

标准状态现行

发布日期2018-10-22

实施日期2019-04-01

中国标准分类号H17 半金属及半导体材料分析方法

国际标准分类号77.040.30 金属材料化学分析

发布部门工业和信息化部

代替标准YS/T 37.2-2007

本部分规定了高纯二氧化锗中硅含量的测定方法。本部分适用于高纯二氧化锗中硅含量的测定，测定范围：0.00001％～0.00010％。