精细陶瓷 平行光束X射线衍射法测定单晶薄膜（晶圆）结晶质量
Fine ceramics—Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
标准状态
发布于：2026-05-25
实施于：2026-12-01
废止
基本信息
GB/T 47625-2026
即将实施
2026-05-25
2026-12-01
中国建筑材料联合会
国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
中国建筑材料联合会