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H 冶金

收录 5000 项

下级分类

H00-09 冶金综合

H00 标准化、质量管理

H01 技术管理

H02 经济管理

H04 基础标准与通用方法

H05 通用工艺

H07 电子计算机应用

H08 标志、包装、运输、贮存

H09 卫生、安全、劳动保护

H10-19 金属化学分析方法

H10 金属化学分析方法综合

H11 钢铁与铁合金分析方法

H12 轻金属及其合金分析方法

H13 重金属及其合金分析方法

H14 稀有金属及其合金分析方法

H15 贵金属及其合金分析方法

H16 粉末冶金分析方法

H17 半金属及半导体材料分析方法

H20-29 金属理化性能试验方法

H20 金属理化性能试验方法综合

H21 金属物理性能试验方法

H22 金属力学性能试验方法

H23 金属工艺性能试验方法

H24 金相检验方法

H25 金属化学性能试验方法

H26 金属无损检验方法

H30-34 冶金原料与辅助材料

H30 冶金原料与辅助材料综合

H31 人造富矿

H34 选矿药剂

H40-59 钢铁产品

H40 钢铁产品综合

H43 钢锭、钢坯

H44 型钢、异型钢

H46 钢板、钢带

H48 钢管、铸铁管

H49 钢丝、钢丝绳

H52 铁道用钢

H53 电工用钢

H54 其他钢铁产品

H57 高温合金

H58 精密合金

H59 其他特种合金

H60-69 有色金属及其合金产品

H60 有色金属及其合金产品综合

H61 轻金属及其合金

H62 重金属及其合金

H63 稀有高熔点金属及其合金

H64 稀有轻金属及其合金

H65 稀土金属及其合金

H66 稀有分散金属及其合金

H67 放射性金属及其合金

H68 贵金属及其合金

H69 再生有色金属及其合金

H70-74 粉末冶金

H70 粉末冶金综合

H71 金属与合金粉末

H72 粉末冶金材料与制品

H80-84 半金属与半导体材料

H80 半金属与半导体材料综合

H82 元素半导体材料

H83 化合物半导体材料

H90-99 冶金机械设备

H90 冶金机械设备综合

H91 炼焦、烧结设备

H92 冶炼设备

H93 铸锭、铸坯设备

H94 轧制设备

H95 冶金加热、热处理设备

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 2073-1993	双金属带	已废止	1993-08-30	1994-03-01
GB/T 5239-1993	氧化镨	已废止	1993-09-15	1994-03-01
GB/T 3503-1993	氧化钇	已废止	1993-09-15	1994-03-01
GB/T 4154-1993	氧化镧	已废止	1993-09-15	1994-03-01
GB/T 14635.2-1993	稀土金属及其化合物化学分析方法 EDTA滴定法测定单一稀土金属及其化合物中稀土总量	已废止	1993-09-15	1994-06-01
GB/T 14635.3-1993	稀土金属及其化合物化学分析方法 EDTA滴定法测定重稀土金属及其化合物中稀土总量	已废止	1993-09-15	1994-06-01
GB/T 4153-1993	混合稀土金属	已废止	1993-09-15	1994-03-01
GB/T 14635.1-1993	稀土金属及其化合物化学分析方法草酸盐重量法测定稀土总量	已废止	1993-09-15	1994-06-01
GB/T 14693-1993	焊缝无损检测符号	已废止	1993-11-09	1994-07-01
TB/T 2451-1993	铸钢中非金属夹杂物金相检验	现行	1993-11-11	1994-07-01
TB/T 2375-1993	铁路用耐候钢周期浸润腐蚀试验方法	现行	1993-11-11	1994-07-01
TB/T 2478-1993	弹条金相组织评级图	现行	1993-12-18	1994-07-01
YS/T 70-1993	粗铜	已废止	1993-12-22	1994-10-01
YS/T 69-1993	钎接用铝合金板材	已废止	1993-12-22	1994-10-01
YS 68-1993	砷	已废止	1993-12-22	1994-10-01
YS/T 71-1993	粗铅	已废止	1993-12-22	1994-10-01
GB/T 5250-1993	可渗透烧结金属材料流体渗透性的测定	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14849.1-1993	工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14842-1993	铌棒材	已废止	1993-12-30	1994-09-01
GB/T 14847-1993	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	已废止	1993-12-30	1994-09-01