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H17 半金属及半导体材料分析方法

收录 151 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 4298-1984半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法已废止1984-03-281985-03-01
GB/T 4373.4-1984砷化学分析方法 二硫代二安替比林基甲烷光度法测定铋量已废止1984-04-301985-04-01
GB/T 4373.3-1984砷化学分析方法 硫酸钡重量法测定硫量已废止1984-04-301985-04-01
GB/T 4373.1-1984砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量已废止1984-04-301985-04-01
GB/T 4373.2-1984砷化学分析方法 孔雀绿光度法测定锑量已废止1984-04-301985-04-01
GB/T 4699.1-1984硅铬合金化学分析方法 重量法测定硅量已废止1984-09-281985-09-01
GB/T 4699.3-1984硅铬合金化学分析方法 钼蓝光度法测定磷量已废止1984-10-041985-09-01
GB/T 4700.3-1984硅钙合金化学分析方法 EDTA滴定法测定铝量已废止1984-10-041985-09-01
GB/T 4700.1-1984硅钙合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量已废止1984-10-041985-09-01
GB/T 4699.2-1984硅铬合金化学分析方法 碱熔-过硫酸铵氧化容量法测定铬量已废止1984-10-041985-09-01
YS/T 37.2-1992高纯二氧化锗化学分析方法钼蓝分光光度法测定硅量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 34.2-1992高纯砷化学分析方法化学光谱法测定钴,锌,银,铜,钙,铝,镍,铬,铅,镁,铁量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 37.3-1992高纯二氧化锗化学分析方法石墨炉原子吸收光谱法测定砷量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 34.3-1992高纯砷化学分析方法极谱法测定硒量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 37.1-1992高纯二氧化锗化学分析方法硫氰酸汞分光光度法测定氯量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 34.4-1992高纯砷化学分析方法 极谱法测定硫量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 37.4-1992高纯二氧化锗化学分析方法化学光谱法测定铁,镁,铅,镍,铝,钙,铜,铟和锌量已废止1992-03-131993-01-01
YS/T 34.1-1992高纯砷化学分析方法孔雀绿分光光度法测定锑量已废止1992-03-131993-01-01
YS 68-1993砷已废止1993-12-221994-10-01
GB/T 14849.1-1993工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量已废止1993-12-301994-09-01

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