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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项
下级分类
L00-09 电子元器件与信息技术综合
L10-34 电子元件
L35-39 电真空器件
L40-49 半导体分立器件
L50-54 光电子器件
L55-59 微电路
L60-69 计算机
L70-84 信息处理技术
L85-89 电子测量与仪器
L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件
L95-99 电子工业生产设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 16607-1996微波炉在1GHz以上的辐射干扰测量方法已废止1996-11-121997-10-01
GB/T 11313-1996射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法已废止1996-11-121997-10-01
GB/T 5967-1996电子设备用固定电容器 第8部分:空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平E已废止1996-11-121997-10-01
GB/T 4619-1996液晶显示器件测试方法已废止1996-11-121997-10-01
GB/T 5966-1996电子设备用固定电容器 第8部分:分规范:1类瓷介固定电容器已废止1996-11-121997-10-01
QB/T 2259-1996荧光灯用卤磷酸钙荧光粉已废止1996-11-151997-07-01
QB/T 2260-1996灯用卤磷酸钙荧光粉相对亮度测试方法已废止1996-11-151997-07-01
QB/T 2261-1996灯用卤磷酸钙荧光粉发射光谱及色坐标的测试方法已废止1996-11-151997-07-01
SJ/T 10944-1996电真空器件用刚玉粉现行1996-11-201988-12-01
SJ/T 11020-1996电子器件用银铜钎焊料的分析方法 碘量法测定铜现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10925-1996电子工业用硅酸钾溶液浓度及模数的计算方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10924-1996电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 11023-1996电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铋现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10937-1996彩色显像管用屏玻璃色品坐标测试方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10921-1996电子工业用硅酸钾溶液中碳酸钾的测定方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10954-1996电子元器件详细规范 ZCK120型硅开关二极管(可供认证用)现行1996-11-201988-12-01
SJ/T 10929-1996电子工业用硅酸钾溶液中重金属(Pb)的测定方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10923-1996电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法现行1996-11-201997-01-01
SJ/T 10918-1996摄像管线圈组件测试方法现行1996-11-201988-10-01
SJ/T 11024-1996电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锑现行1996-11-201997-01-01

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