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L 电子元器件与信息技术

收录 5000 项
下级分类
L00-09 电子元器件与信息技术综合
L10-34 电子元件
L35-39 电真空器件
L40-49 半导体分立器件
L50-54 光电子器件
L55-59 微电路
L60-69 计算机
L70-84 信息处理技术
L85-89 电子测量与仪器
L90-94 电子设备与专用材料、零件、结构件
L95-99 电子工业生产设备
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
SJ/T 12027.1-2025智能制造 雷达和类似用途的电子信息装备数字化设计 第1部分:总体要求现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 10624-2025X射线管寿命试验方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 11925.12-2025工业互联网平台 工业设备上云通用管理要求 第12部分:近海船舶设备现行2025-09-092025-09-09
SJ/T 12039-2025模数混合芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12019-2025电竞显示器技术要求现行2025-09-092025-12-01
SJ/T 12037-2025人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 11925.13-2025工业互联网平台 工业设备上云通用管理要求 第13部分:火力发电设备现行2025-09-092025-09-09
SJ/T 12040-2025数字芯片设计一致性验证方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12010-2025电磁屏蔽体抑制网络的抑制特性测量方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12027.4-2025智能制造 雷达和类似用途的电子信息装备数字化设计 第4部分:装配工艺建模现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12025-2025通用算力性能测评技术要求现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12030-2025锂电池芯短路测试仪现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12023-2025半导体设备 集成电路制造用化学气相淀积设备(CVD)测试方法现行2025-09-092026-03-01
SJ/T 12005-2025功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化硅陶瓷覆铜基板现行2025-09-092026-03-01
T/CPHA 63-2025专业集装箱码头生产管控数字孪生系统技术要求 呈现现行2025-09-042025-12-01
DB34/T 5302-2025电子政务外网网络安全能力评价指标体系指南已废止2025-09-032025-10-03
DB34/T 5300-2025智能终端屏幕信息泄露溯源技术规程现行2025-09-032025-10-03
DB34/T 5301-2025电子政务外网安全运维技术规范现行2025-09-032025-10-03
DB34/T 5230.4-2025政务云 第4部分:平台数据目录编制指南现行2025-09-032025-10-03
DB34/T 5305-2025非涉密业务专网向电子政务外网迁移整合技术规范现行2025-09-032025-10-03

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