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L50 光电子器件综合
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L54 半导体光敏器件
L50 光电子器件综合
L50 光电子器件综合
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122
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现行
即将实施
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标准号
标准名称
状态
发布日期
↕
实施日期
↕
GB/T 7962.13-2025
无色光学玻璃测试方法 第13部分:导热系数
现行
2025-06-30
2026-01-01
GB/T 7962.7-2025
无色光学玻璃测试方法 第7部分:条纹度
现行
2025-06-30
2026-01-01
GB/T 45798-2025
光电测量 激光跟踪测量系统性能检测方法
现行
2025-08-01
2026-02-01
GB/T 18310.23-2025
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-23部分:试验 非加压式接头盒的密封
现行
2025-10-31
2026-05-01
GB/T 18310.14-2025
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-14部分:试验 高光功率
现行
2025-10-31
2026-02-01
SJ/T 12074-2025
光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法
现行
2025-12-19
2026-07-01
SJ/T 12075-2025
硅基光电子工艺设计包通用要求
现行
2025-12-19
2026-07-01
SJ/T 12073-2025
100G相干光通信用硅光集成芯片技术规范
现行
2025-12-19
2026-07-01
SJ/T 12076-2025
硅基光电子芯片封装设计导则
现行
2025-12-19
2026-07-01
GB/T 18311.47-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-47部分:检查和测量 采用干涉法测量PC/APC球面抛光型插针的端面几何尺寸
现行
2026-02-27
2026-09-01
GB/T 18310.10-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-10部分:试验 抗挤压和抗负载
现行
2026-02-27
2026-09-01
GB/T 18310.27-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-27部分:试验 灰尘(层流)
即将实施
2026-07-30
2027-02-01
GB/T 18310.29-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-29部分:试验 低气压
即将实施
2026-07-30
2027-02-01
GB/T 18310.11-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-11部分:试验 轴向挤压
即将实施
2026-07-30
2027-02-01
GB/T 18310.28-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-28部分:试验 腐蚀性气氛(二氧化硫)
即将实施
2026-07-30
2027-02-01
GB/T 18310.7-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-7部分:试验 弯矩
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
GB/T 48096-2026
微机电结构动态位移参数的激光多普勒测量方法
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
GB/T 48094-2026
等离子体参数测试方法
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
GB/T 18311.55-2026
纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-55部分:检查和测量 偏振保持无源器件的偏振消光比和键位精度
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
GB/T 48095-2026
高深宽比微结构形貌参数显微干涉测量方法
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
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