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| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
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| GB/T 18310.19-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-19部分:试验 恒定湿热 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 18310.1-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-1部分:试验 振动(正弦) | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 18310.12-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-12部分:试验 撞击 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 18310.5-2002 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-5部分:试验 扭转扭绞 | 现行 | 2002-12-04 | 2003-05-01 |
| GB/T 18310.39-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-39部分:试验 对外界磁场敏感性 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |
| GB/T 18310.6-2001 | 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-6部分:试验 锁紧机构抗拉强度 | 现行 | 2001-02-13 | 2001-08-01 |