半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

GB/T 15651.3-2003现行国家标准

标准状态

发布于：2003-11-24

实施于：2004-08-01

废止

标准号GB/T 15651.3-2003

标准状态现行

发布日期2003-11-24

实施日期2004-08-01

中国标准分类号L50 光电子器件综合

国际标准分类号31.260 光电子学、激光设备

主管部门工业和信息化部（电子）

发布部门中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

技术归口工业和信息化部（电子）

起草单位华禹光谷股份有限公司半导体厂

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。