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I6520 集成电路设计

收录 32 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/CIE 067-2020工业级高可靠集成电路评价 第1部分:AC/DC电路现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 068-2020工业级高可靠集成电路评价 第2部分:DC/DC变换器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 069-2020工业级高可靠集成电路评价 第3部分:功率放大器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 070-2020工业级高可靠集成电路评价 第4部分:非易失性存储器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 071-2020工业级高可靠集成电路评价 第6部分:蓝牙芯片现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 072-2020工业级高可靠集成电路评价 第7部分:AD和DA转换器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 073-2020工业级高可靠集成电路评价 第8部分:MCU芯片现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 074-2020工业级高可靠集成电路评价 第9部分:电表用微控制器(MCU)(有水印)现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 075-2020工业级高可靠集成电路评价 第10部分:温度传感器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 076-2020工业级高可靠集成电路评价 第11部分:压力传感器(有水印)现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 077-2020工业级高可靠集成电路评价 第12部分:倾角传感器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 078-2020工业级高可靠集成电路评价 第13部分:湿度传感器(有水印)现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 079-2020工业级高可靠集成电路评价 第14部分:图像传感器现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 080-2020工业级高可靠集成电路评价 第15部分:超高频射频识别(有水印)现行2020-06-082020-08-15
T/CIE 081-2020工业级高可靠集成电路评价 第16部分:高频射频识别(有水印)现行2020-06-082020-08-15
T/CESA 1119-2020人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法现行2020-10-302020-11-10
T/CESA 1120-2020人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法现行2020-10-302020-11-10
T/CESA 1121-2020人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法现行2020-10-302020-11-10
T/CIITA 101-2021PKS体系 参考架构现行2021-12-202022-02-01
T/CIITA 102-2021PKS体系 中央处理器参考板现行2021-12-202022-02-01

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