人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
AI chips-Test index and test method of deep learning chips for cloud side
标准状态
发布于：2020-10-30
实施于：2020-11-10
废止
基本信息
T/CESA 1119-2020
现行
2020-10-30
2020-11-10
中国电子工业标准化技术协会
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标准简介
本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。本文件只规定云侧深度学习芯片基准测试的一般原则。 本文件适用于第三方机构对云侧深度学习芯片进行性能测试与评估，也适用于云侧深度学习芯片产品的采购、设计。 云侧芯片并不必须具备训练能力。
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