17.040.01 长度和角度测量综合
收录 23 项左右滑动表格，可查看日期并点击排序
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31225-2014 | 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GA/T 1062-2013 | IC卡光标测试系统校准规范 | 现行 | 2013-04-01 | 2013-05-01 |
| GB/T 3177-2009 | 产品几何技术规范（GPS）光滑工件尺寸的检验 | 现行 | 2009-03-16 | 2009-11-01 |
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31225-2014 | 椭圆偏振仪测量硅表面上二氧化硅薄层厚度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GA/T 1062-2013 | IC卡光标测试系统校准规范 | 现行 | 2013-04-01 | 2013-05-01 |
| GB/T 3177-2009 | 产品几何技术规范（GPS）光滑工件尺寸的检验 | 现行 | 2009-03-16 | 2009-11-01 |