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17 计量学和测量、物理现象

收录 4073 项
下级分类
17.020 计量学和测量综合
17.040 长度和角度测量
17.040.01 长度和角度测量综合
17.040.10 极限和配合
17.040.20 表面特征
17.040.30 测量仪器仪表
17.040.40 产品几何技术规范（GPS）
17.040.99 有关线性和角度测量的其他标准
17.060 体积、质量、密度和粘度的测量
17.080 时间、速度、加速度、角速度的测量
17.100 力、重力和压力的测量
17.120 流体流量的测量
17.120.01 流体流量的测量综合
17.120.10 封闭管道中流量的测量
17.120.20 明渠流量
17.140 声学和声学测量
17.140.01 声学测量和噪声抑制综合
17.140.20 机器和设备的噪声
17.140.30 运输工具的噪声
17.140.50 电声学
17.140.99 有关声学的其他标准
17.160 振动、冲击和振动测量
17.180 光学和光学测量
17.180.01 光学和光学测量综合
17.180.20 颜色和光的测量
17.180.30 光学测量仪器
17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准
17.200 热力学和温度测量
17.200.10 热、量热学
17.200.20 温度测量仪器仪表
17.200.01 热力学综合
17.200.99 有关热力学的其他标准
17.220 电学、磁学、电和磁的测量
17.220.01 电学、磁学综合
17.220.20 电和磁量值的测量
17.220.99 有关电学和磁学的其他标准
17.240 辐射测量
左右滑动表格，可查看日期并点击排序
标准号标准名称状态发布日期 实施日期
JB/T 9265-1999仪表柜和仪表箱主要结构尺寸系列现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9335-1999平板仪已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8226.5-1999光学零件镀膜 中性滤光膜现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9333-1999显微镜 光学显微术通用浸油已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9337-1999大地测量仪器 三脚架现行1999-08-062000-01-01
JB/T 8220-1999工业过程控制系统用位式控制器性能评定方法现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9276-1999倾斜式微压计现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9453-1999气象用双金属温度计 技术条件已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9343-1999分格值为1′的光学测角比较仪已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9233.1-1999工业自动化仪表通用试验方法.总则已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8223.2-1999电工仪表用零部件 线圈架现行1999-08-062000-01-01
JB/T 8226.4-1999光学零件镀膜 内反射膜现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9233.20-1999工业自动化仪表通用试验方法.输入导线影响已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8226.2-1999光学零件镀膜 水解法镀双层减反射膜现行1999-08-062000-01-01
JB/T 9233.16-1999工业自动化仪表通用试验方法 交流功耗已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9326-1999激光喇曼分光光度计已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 9259-1999蒸汽和气体压力式温度计已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8212-1999工业过程测量和控制系统用动圈式指示调节仪性能评定方法已废止1999-08-062000-01-01
JB/T 8226.7-1999光学零件镀膜 分束膜现行1999-08-062000-01-01
JB/T 5465.4-1999电度表用零部件 钕铁硼永磁制动组件现行1999-08-062000-01-01

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