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17 计量学和测量、物理现象

收录 4073 项

下级分类

17.020 计量学和测量综合

17.040 长度和角度测量

17.040.01 长度和角度测量综合

17.040.10 极限和配合

17.040.20 表面特征

17.040.30 测量仪器仪表

17.040.40 产品几何技术规范（GPS）

17.040.99 有关线性和角度测量的其他标准

17.060 体积、质量、密度和粘度的测量

17.080 时间、速度、加速度、角速度的测量

17.100 力、重力和压力的测量

17.120 流体流量的测量

17.120.01 流体流量的测量综合

17.120.10 封闭管道中流量的测量

17.120.20 明渠流量

17.140 声学和声学测量

17.140.01 声学测量和噪声抑制综合

17.140.20 机器和设备的噪声

17.140.30 运输工具的噪声

17.140.50 电声学

17.140.99 有关声学的其他标准

17.160 振动、冲击和振动测量

17.180 光学和光学测量

17.180.01 光学和光学测量综合

17.180.20 颜色和光的测量

17.180.30 光学测量仪器

17.180.99 有关光学和光学测量的其他标准

17.200 热力学和温度测量

17.200.10 热、量热学

17.200.20 温度测量仪器仪表

17.200.01 热力学综合

17.200.99 有关热力学的其他标准

17.220 电学、磁学、电和磁的测量

17.220.01 电学、磁学综合

17.220.20 电和磁量值的测量

17.220.99 有关电学和磁学的其他标准

17.240 辐射测量

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标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
JB/T 9495.7-1999	光学晶体光学均匀性测量方法	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9241-1999	辐射感温器技术条件	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9233.2-1999	工业自动化仪表通用试验方法.死区	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8222-1999	工业过程测量和控制系统用电动和气动模拟计算器性能评定方法	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9328-1999	分辨力板	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8226.8-1999	光学零件镀膜截止滤光膜	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9302-1999	直流光电放大式检流计	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9248-1999	电磁流量计	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9250-1999	工业过程测量和控制用带电接点控制装置的自动平衡式记录仪和指示仪技术条件	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8237-1999	直角棱镜	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9495.3-1999	光学晶体透过率测量方法	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9237.1-1999	工业自动化仪表工作条件腐蚀和侵蚀影响	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8226.1-1999	光学零件镀膜减反射膜	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9289-1999	接地电阻表	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9495.2-1999	光学晶体折射率测量方法	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9288-1999	外附分流器	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9233.6-1999	工业自动化仪表通用试验方法.环境温度影响	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8238-1999	光学仪器用齿纹	现行	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 9261-1999	电容物位计	已废止	1999-08-06	2000-01-01
JB/T 8214.2-1999	QDZ气动单元组合仪表继动器	已废止	1999-08-06	2000-01-01