17 计量学和测量、物理现象
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| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 9274-1999 | 膜盒压力表 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9260-1999 | 自动平衡式显示仪表用放大器 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9351-1999 | 电子光学仪器 包装通用技术条件 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9347-1999 | 航空摄影测量照相机象面尺寸 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9266-1999 | 显示仪表温度测量范围 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9245-1999 | 锅炉用玻璃板水位计 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9327-1999 | 白度计 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9320-1999 | 平面光栅摄谱仪 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9349-1999 | 工具显微镜用测量刀 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9314-1999 | 大地测量仪器的包装 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.7-1999 | 光学晶体光学均匀性 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9241-1999 | 辐射感温器 技术条件 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.8-1999 | 光学零件镀膜 截止滤光膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9302-1999 | 直流光电放大式检流计 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9250-1999 | 工业过程测量和控制用带电接点控制装置的自动平衡式记录仪和指示仪 技术条件 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.3-1999 | 光学晶体透过率 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9237.1-1999 | 工业自动化仪表工作条件 腐蚀和侵蚀影响 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8226.1-1999 | 光学零件镀膜 减反射膜 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9289-1999 | 接地电阻表 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 9495.2-1999 | 光学晶体折射率 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |