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31.080.10 二极管

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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
GB/T 6571-1995半导体器件 分立器件 第3部分:信号包括开关和调整二极管现行1995-07-241996-04-01
GB/T 16894-1997大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范现行1997-06-281998-03-01
GB/T 6351-1998半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管包括雪崩整流二极管空白详细规范现行1998-11-171999-06-01
GB/T 6588-2000半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范现行2000-10-172001-10-01
GB/T 6589-2002半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范现行2002-12-042003-05-01
JB/T 8949.2-2013普通整流管 第2部分:平板形器件现行2013-04-252013-09-01
JB/T 8949.1-2013普通整流管 第1部分:螺栓形器件现行2013-04-252013-09-01
JB/T 7624-2013整流二极管测试方法现行2013-04-252013-09-01
GB/T 4023-2015半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管现行2015-12-312017-01-01
GB 51209-2016发光二极管工厂设计规范现行2016-10-242017-07-01
T/SZSA 031.01-2022ESD/TVS静电保护类器件测试规范现行2022-04-112022-04-20
SJ/T 11845.3-2022基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分:二极管现行2022-10-202023-01-01
T/QGCML 585-2022LED芯片技术规范现行2022-12-262023-01-03
T/CVIA 117-2023T/DTIA 001-2023 Micro LED光学特性测试方法现行2023-04-182023-04-18
T/ZOIA 3003-2024硅光电倍增管可靠性评估方法现行2024-02-042024-02-04
JB/T 5836.1-2025快恢复二极管 第1部分:单管现行2025-07-022026-02-01
SJ/T 12069-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12071-2025半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12070-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
JB/T 6307.3-2026电力半导体模块测试方法整流管模块第3部分:三相桥现行2026-02-132026-09-01

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