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31.080.10 二极管

收录 41 项
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标准号标准名称状态发布日期 实施日期
T/SZSA 031.01-2022ESD/TVS静电保护类器件测试规范现行2022-04-112022-04-20
SJ/T 11845.3-2022基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管现行2022-10-202023-01-01
T/QGCML 585-2022LED芯片技术规范现行2022-12-262023-01-03
T/CVIA 117-2023T/DTIA 001-2023 Micro LED光学特性测试方法现行2023-04-182023-04-18
T/ZOIA 3003-2024硅光电倍增管可靠性评估方法现行2024-02-042024-02-04
JB/T 5836.1-2025快恢复二极管 第1部分：单管现行2025-07-022026-02-01
SJ/T 12069-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管电参数测试方法现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12071-2025半导体器件 分立器件碳化硅二极管门类规范现行2025-12-192026-07-01
SJ/T 12070-2025半导体器件 分立器件 碳化硅二极管可靠性试验方法现行2025-12-192026-07-01
JB/T 6307.3-2026电力半导体模块测试方法整流管模块第3部分：三相桥现行2026-02-132026-09-01
JB/T 5834.2-2026电力半导体模块整流管模块第2部分：单相桥现行2026-02-132026-09-01
JB/T 6307.2-2026电力半导体模块测试方法整流管模块第2部分：单相桥现行2026-02-132026-09-01
JB/T 5836.2-2026快恢复二极管第2部分：模块现行2026-02-132026-09-01
JB/T 15404-2026电力半导体模块整流管和晶闸管混合模块臂对现行2026-02-132026-09-01
JB/T 5834.3-2026电力半导体模块整流管模块第3部分：三相桥现行2026-02-132026-09-01
JB/T 6307.1-2026电力半导体模块测试方法整流管模块第1部分：臂和臂对现行2026-02-132026-09-01
JB/T 5834.1-2026电力半导体模块整流管模块第1部分：臂和臂对现行2026-02-132026-09-01
GB/T 4023.4-2026半导体分立器件 第4部分：微波二极管和晶体管现行2026-04-302026-11-01
GB/T 4023.3-2026半导体分立器件 第3部分：信号、开关和调整二极管现行2026-04-302026-11-01
GB/T 48207-2026电容式指纹采集芯片参数测试方法即将实施2026-09-282027-04-01

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